MPS2100是美国Chapman Instrument Inc.最新的高分辨率分析仪。专门设计用于表面测量和分析,它既可以用作在线质量检查的生产工具,也可以用作建立标准和研究公差的研发工具。MPS2100采用与其他Chapman分析仪相同的非接触测量技术,用户可以快速进行高分辨率线性或圆形扫描。基于Windows的操作软件功能强大、易于操作的界面,可以通过编程来执行一系列例行程序,并报告在线生产数据以供进一步分析。密码设置、更换记录和事件记录/错误记录是查普曼软件的标准配置。可选机器人手臂搬运150mm、200 mm和300 mm晶圆。
晶圆粗糙度测量系统 - MPS2100
- 快速、全面的圆形扫描(围绕晶圆表面360°)
- 用于高清晰度光学检查的诺马斯基(Nomarski)观察系统
- 适用于扫描8英寸或12英寸晶圆
- 单次扫描获取粗糙度和波纹度数据
- 非接触式3D扫描
- 自动样本定位(X、Y、θ)
- 通过一键实现多次扫描的自定义测量序列
- 自动对焦采集
- 闭环自动对焦系统允许在扫描不同地形的样品时保持对焦
- 可选择性机器手臂操作
- TCP/IP网络接口或SECS/GEM数据通信(可选)